{"author":[{"first_name":"Roman","last_name":"Probst","full_name":"Probst, Roman","id":"69156"},{"id":"5297","full_name":"Song, Jian","last_name":"Song","first_name":"Jian"}],"publisher":"Labor für Feinsystemtechnik, TH OWL","page":"166 - 177","corporate_editor":["Labor für Feinsystemtechnik, Technische Hochschule Ostwestfalen-Lippe"],"ddc":["620"],"department":[{"_id":"DEP6012"}],"user_id":"83781","publication":"Elektrische und optische Verbindungstechnik 2023 : Tagungsband der VDE/VDI GMM-Fachtagung : 9. Symposium Connectors","publication_identifier":{"unknown":["978-3-00-074593-5"]},"status":"public","citation":{"din1505-2-1":"Probst, Roman ; Song, Jian ; Song, J. ; Labor für Feinsystemtechnik, Technische Hochschule Ostwestfalen-Lippe (Hrsg.): Bestimmung der charakteristischen Lebensdauer von Steckverbindern aus der Frühphase beschleunigter Lebensdauerprüfungen – State of Health. Tagungsband der VDE/VDI-GMM- Fachtagung „Symposium Connectors“, 166 – 177, Lemgo 2023. Lemgo : Labor für Feinsystemtechnik, TH OWL, 2023","ama":"Probst R, Song J. Bestimmung der charakteristischen Lebensdauer von Steckverbindern aus der Frühphase beschleunigter Lebensdauerprüfungen – State of Health. Tagungsband der VDE/VDI-GMM- Fachtagung „Symposium Connectors“, 166 – 177, Lemgo 2023. (Song J, Labor für Feinsystemtechnik, Technische Hochschule Ostwestfalen-Lippe, eds.). Labor für Feinsystemtechnik, TH OWL; 2023:166-177.","van":"Probst R, Song J. Bestimmung der charakteristischen Lebensdauer von Steckverbindern aus der Frühphase beschleunigter Lebensdauerprüfungen – State of Health. Tagungsband der VDE/VDI-GMM- Fachtagung „Symposium Connectors“, 166 – 177, Lemgo 2023. Song J, Labor für Feinsystemtechnik, Technische Hochschule Ostwestfalen-Lippe, editors. Elektrische und optische Verbindungstechnik 2023 : Tagungsband der VDE/VDI GMM-Fachtagung : 9. Symposium Connectors. Lemgo: Labor für Feinsystemtechnik, TH OWL; 2023.","chicago-de":"Probst, Roman und Jian Song. 2023. Bestimmung der charakteristischen Lebensdauer von Steckverbindern aus der Frühphase beschleunigter Lebensdauerprüfungen – State of Health. Tagungsband der VDE/VDI-GMM- Fachtagung „Symposium Connectors“, 166 – 177, Lemgo 2023. Hg. von Jian Song und Labor für Feinsystemtechnik, Technische Hochschule Ostwestfalen-Lippe. Elektrische und optische Verbindungstechnik 2023 : Tagungsband der VDE/VDI GMM-Fachtagung : 9. Symposium Connectors. Lemgo: Labor für Feinsystemtechnik, TH OWL.","havard":"R. Probst, J. Song, Bestimmung der charakteristischen Lebensdauer von Steckverbindern aus der Frühphase beschleunigter Lebensdauerprüfungen – State of Health. Tagungsband der VDE/VDI-GMM- Fachtagung „Symposium Connectors“, 166 – 177, Lemgo 2023, Labor für Feinsystemtechnik, TH OWL, Lemgo, 2023.","apa":"Probst, R., & Song, J. (2023). Bestimmung der charakteristischen Lebensdauer von Steckverbindern aus der Frühphase beschleunigter Lebensdauerprüfungen – State of Health. Tagungsband der VDE/VDI-GMM- Fachtagung „Symposium Connectors“, 166 – 177, Lemgo 2023. In J. Song & Labor für Feinsystemtechnik, Technische Hochschule Ostwestfalen-Lippe (Eds.), Elektrische und optische Verbindungstechnik 2023 : Tagungsband der VDE/VDI GMM-Fachtagung : 9. Symposium Connectors (pp. 166–177). Labor für Feinsystemtechnik, TH OWL.","bjps":"Probst R and Song J (2023) Bestimmung der charakteristischen Lebensdauer von Steckverbindern aus der Frühphase beschleunigter Lebensdauerprüfungen – State of Health. Tagungsband der VDE/VDI-GMM- Fachtagung „Symposium Connectors“, 166 – 177, Lemgo 2023, Song J and Labor für Feinsystemtechnik, Technische Hochschule Ostwestfalen-Lippe (eds). Lemgo: Labor für Feinsystemtechnik, TH OWL.","ufg":"Probst, Roman/Song, Jian: Bestimmung der charakteristischen Lebensdauer von Steckverbindern aus der Frühphase beschleunigter Lebensdauerprüfungen – State of Health. 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